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奥地利CISC半导体公司推出UHF RFID测试系统

创建时间:2017/7/6 13:56:43 |浏览量:

近日,奥地利设计和咨询服务公司CISC半导体宣布更新其CISC RFID Xplorer系统,可用于测试RAIN RFID标签的性能及一致性,以增强对超高频(UHF)RFID电子标签的性能测试。

 

 

RFID Xplorer系统
2012年4月,该企业首次公布了Xplorer测试系统,该系统采用便携式设计,是一套低成本的RFID标签灵敏度测试系统,可对通信距离和后向散射进行精确测量。


在近期,该企业宣布更新RFID Xplorer系统——Xplorer 200。它扩展了对内存读写和加密码套件的测试,完全支持EPCglobal和ISO / IEC标准。

 

 

据说,11月6-7日Xplorer 200将在圣保罗举办的RFID Journal LIVE! Brasil上亮相,特别针对了巴西RFID测试标准定制开发,如SINIAV, ARTESP和Brasil ID。

 

RFID Xplorer系统能实现哪些功能?
RFID Xplorer的大小仅为160*205*50毫米,方便携带、拆卸和安装,可以在几分钟之内完成。它可以用来衡量单个的标签性能,也可以同时进行多个标签的完整分析。并为世界各地的检测标准提供了测试技术,同时提供了一种方法来描述不同标签的物理属性。


Xplorer标签性能测试仪的标签数量分析工具可让用户在图上查看标签的最低响应功率。因此,用户可以及时对方案进行优化并发现特定应用场景的潜在弱点。

针对自发测试,该系统可在场内进行标签检测。该系统会进行频率扫描,以作为读取器与标签之间的读取读取范围评价基础。结果可以以XML或TXT文件格式进行保存。

 

 

该设备的工作频率在800 MHz到1 GHz的频率范围,对每个频率的占用时间小于1秒,测试速度快。在读写器的性能和一致性测试过程中,信号实时传输没有记录时间限制。

 

频率扫描结果可生成为一个累积分布函数,同时显示标签响应功率,反向散射功率,读取范围及反向散射范围。同时,用户还可以选择自己关注的载波频率和显示度。

用户还可在CISC RFID Xplorer标签仿真器及嗅探器及CISC RFID Xplorer标签性能测试仪中启用干扰分析工具,以便在800MHz到1GHz频率范围内分析可能的干扰。


测试设备使用的图形用户界面(GUI)控制,带有一个额外的应用程序编程接口(API),在标准的开发环境下,用户可自定义测试序列。Xplorer是为户外测试开发,可以是便携式或固定式的RF试验室或RF控制环境的测量解决方案。

 

(来源:内容来源于RFID世界网,侵删)

本文由RFID超高频读写器专业厂商-深圳市捷通科技有限公司发表。转载此文章须经作者同意,并请附上出处(RFID超高频读写器专业厂商-深圳市捷通科技有限公司)及本页链接。原文链接:http://www.jt-rfid.com/?Article1169/1124.html

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