每一个RFID通信系统都必须通过监管要求并符合所用标准。今天我们就来讨论下RFID通信系统的设计师所面对的测试挑战。 RFID技术有几个不同寻常的工程测试挑战，例如瞬时信号、带宽效率低的调制技术和反向散射数据。RFID标签是由RFID天线与RFID芯片构成的，而RFID标签和读写器就构成了整个RFID系统。 在RFID测试标准里面，RFID标签和读写器的测试有规范性测试(包括时序、波频、频谱等)和性能测试(包括反向功率、读距、反向距离等)，RFID系统则包括效率测试和互操做性测试。 系统测试标准 传统的扫频调谐频谱分析仪、矢量和已被用于无线数据链路的开发。然而，这些工具用于RFID测试时都存在一些缺点。扫频调谐频谱分析仪难以准确捕获和刻画瞬时RF信号。矢量仪实际上不支持频谱效率低的RFID调制技术及特殊解码要求。快速示波器的

近日，奥地利设计和咨询服务公司CISC半导体宣布更新其CISC RFID Xplorer系统，可用于测试RAIN RFID标签的性能及一致性，以增强对超高频(UHF)RFID电子标签的性能测试。 RFID Xplorer系统 2012年4月，该企业首次公布了Xplorer测试系统，该系统采用便携式设计，是一套低成本的RFID标签灵敏度测试系统，可对通信距离和后向散射进行精确测量。 在近期，该企业宣布更新RFID Xplorer系统——Xplorer 200。它扩展了对内存读写和加密码套件的测试，完全支持EPCglobal和ISO / IEC标准。 据说，11月6-7日Xplorer 200将在圣保罗举办的RFID Journal LIVE! Brasil上亮相，特别针对了巴西RFID测试标准定制开发，如